SGIkerren XPS - X Izpien unitatea
SGIkerren XPS - X Izpien unitate berri bat
Lehenengo argitaratze data: 2012/05/31
Ikerketaren Zerbitzu Orokorrek, SGIker, gainazalen analisi teknika berri bat eskura jartzen dute ikerkuntzarako komunitatearentzat.
XPS gainazaleko elementuei eta horien oxidazio egoerari eta/edo inguruneko egoerei (koordinazioa) buruzko informazioa ematen duen teknika ez suntsikor bat da. Horrez gain, laginaren sakontasunaren araberako elementuen banaketa azterketak ere egin daitezke, modu suntsikorrean (depth profile, sakonago iristen da) edo ez suntsikorrean (bereizmen angeluardun XPS).
Informazio gehiago nahi izanez gero, SGIkerren web gunera joan edo zerbitzu teknikariarekin harremana egin.
E-mail: mbelen.sanchez@ehu.es
Telefonoa: 94 601 8332