Difraktometro automatikoa, islapenean edo transmisioan posizioan gelu arbaxuetatik neurtutako neurketetarako.

Prestazio altuen difrakzio-neurriak hartzeko eta teknikaren aldakortasuna handitzeko, x izpien difrakzio-ekipo berri bat erosi da, Rigaku Smartlab funtzio anitzeko difraktometroa, XRR eta SAXS sistemetarako konfigurazio optimizatuekin.

X izpien sakabanaketa angelu baxuetan, edo SAXS (Small Angle X-rayScattering), material batek sortatik pasatzean sortzen duen x izpien sakabanak eta aztertzean oinarritutako teknika bat da, zerotik oso gertu dauden angeluetan. Teknika horri esker, nanoeskalako materialak karakterizatu daitezke (1-100 nm) x marren sakabanaketaren azterketaren bidez, eta aztertu beharreko materialaren sakabanaketari, tamainari eta formari buruzko informazioa lortzen da.

Bestalde, Reflectometria bidezko analisia, x izpien beste difrakzio forma bat, mono- edo multi-geruza materialen lodiera, kalitatea eta trinkotasuna zehazteko erabiltzen da, kristalinoak zein amorfoak. Konfigurazio horiei esker, gainera, xaflameheak eta sestra angelukoak azter daitezke. Horrela, x marren erreflektometriaren bidez, filmen lodiera, dentsitatea eta zimurtasuna zehaztu daitezke.

Azpiegitura berri hori zerbitzuan sartzeak aukera ematen du material funtzionalizatuak karakterizatzeko, eta material konpositeak edo geruza anitzekoak ikas daitezke. Funtzio anitzeko material mota horren azterketari esker, gero industria-beharretara egokitu ahal izango dira, eta, horrela, unibertsitatean garatzen den funtsezko ikerketa materialen azken aplikazioetara hurbilduko da.