Panalytical x 'Pert, Pro, geometriako theta-theta lagin polikristalinozko difraktometroa. Sistemak bigarren mailako grafitozko monokromadore bat du, kobrezko erradiazio bati doitua, PixCel detektagailu azkarra, egoera solidoko detektagailua, 3.347 graduko luzera aktiboari doitua. Sistema automatizatu bat du, 45 posiziotarako lagin-aldagailuarekin.
Panalytical Cubix, theta-theta geometriako lagin polikristalina automatikoko difraktometroa, kobrezko erradiazioa eta PixCel detektagailu azkarra. Laginak kargatzeko sistema independente bat du, 30 posizioko bi erretilu dituena. Ekipoak lagin askoren neurketa azkarrak ahalbidetzen ditu, diagramak kontrastatzeko eta aztertu beharreko laginen fase nagusiak identifikatzeko sistema optimizatu bat da.
Panalytical Axios mAX advanced, x izpien fluoreszentziaren espektrometro sekuentziala uhin-luzerak sakabanatzearen ondorioz (WDXRF), laginen aldagailu automatikoarekin, hutsean neurtzeko sistemarekin, Rh hodiarekin eta hiru detektagailurekin (fluxu gaseosoa, Xe distiratsua eta zigilatzea).
X-Izpien difrakzioa
Difraktogramen neurketa eta tratamendua: ekipoen software espezifikoa erabiliz, neurketa-programak prestatzen dira, erabiltzaileek planteatutako beharren arabera.
Faseak identifikatzea: hala eskatzen duten erabiltzaileentzat, faseak software espezifikoaren bidez identifikatzen dira, ICDDren PDF2-4 datu-basearekin konbinatuta.
Buztinen mineralogia, agregatu orientatuen DRX bidez: prozeduraren barruan sartzen da frakzio finak bereiztea, agregatu orientatuak prestatzea eta horien tratamendu espezifikoak egitea, buztinaren mineral taldeak identifikatzea, etab.
X izpien fluoreszentzia:
Elementu handien analisi kimiko kuantitatiboa lagin geologiko eta antzekoetan (arrokak, mineralak, lurzoruak, zeramikak, erregogorrak, zementuak, etab.), beira boratuzko perlaren euskarrian, arrokez eta mineralez ondo ezaugarritutako nazioarteko patroiekin.
Lagin solidoen, metalezko pieza txikien, prentsatutako hauts-pilulen eta abarren analisi kimiko kualitatiboa eta erdi-kuantitatiboa (funtsezko parametroen softwarea).
Kiskaltzearen ondoriozko galera kalkulatzea.
Xehetasun gehiago:
Datuen aurkezpena: lortutako emaitzak txosten, grafiko eta/edo taula moduan bidaltzen zaizkie erabiltzaileei. Era berean, erabiltzaile horiei informazioa ematen zaie erabilitako ekipamenduari, neurketa-baldintzei, laginak prestatzeko erabilitako metodologiari eta abarri buruz.
Prestakuntza eskaintzen da ikastaro espezifikoen bidez, bai eta irakaskuntza-laguntza ere gradu eta master desberdinetan.
Barneko lanak egiten dira EHUko ikerketa-taldeentzat, bai eta beste OPIentzat eta enpresa eta zentro pribatuentzat ere.
