ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA DE RAYOS X (XPS)
Presentación
El Servicio General de Rayos X de la Universidad del País Vasco/EHU pretende dar apoyo a la investigación básica y aplicada, entre otras, a las diferentes áreas de conocimiento de las Ciencias Geológicas, Químicas, Físicas, Ciencias de Materiales, Aeronáutica, Farmacia, Bioquímica, Arqueología, Paleontología, Antropología, Ciencias Ambientales. Además de contribuir a prestar servicio en los campos de la Construcción, Prospección Minera, Ingeniería Civil, etc. También, pueden acceder al mismo, investigadores de la Red Vasca de Ciencia y Tecnología, otros investigadores externos a la UPV/EHU, otras Instituciones Públicas y Privadas, en todo el ámbito nacional e internacional.
La Unidad de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), dentro del Servicio General de Rayos X de la Universidad del País Vasco/EHU, contempla el análisis de superficies, tanto de muestras sólidas como de muestras en polvo.
XPS es una técnica no destructiva que proporciona información sobre los elementos presentes en la superficie así como sobre su estado de oxidación y/o situaciones del entorno (coordinación). Se pueden llevar a cabo también estudios de distribución de elementos en función de la profundidad de la muestra, de manera destructiva (depth profile, que alcanza mayor profundidad) o no destructiva (XPS con resolución angular).
La técnica XPS permite el estudio de diferentes tipos de materiales como metales, aleaciones, materiales cerámicos, polímeros, vidrios, semiconductores, muestras geológicas, muestras biológicas secas, y en general, cualquier superficie compatible con sistemas de alto vacío, en áreas de aplicación tan diversas como estudios de adhesión, catálisis, corrosión, tratamientos de superficies de materiales, electrónica, metalurgia, segregación superficial, análisis de deposición de capas, etc.
