X IZPIEN BIDEZKO ESPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONIKOA (XPS)

X izpien bidezko espektroskopia fotoelektroniko unitateak gainazal solidoen eta hauts erakoen ezaugarriak zehazteko beharrezko ekipamendua du. Hauts erako laginen kasuan, ahal denean horiek prentsatzeak beren erabilgarritasuna hobetzen du.

Analisi mota desberdinak hauta daitezke:

• Espektro nagusiaren erregistroa eta gainazalaren konposizioaren analisi kualitatiboa.
• Gainazala osatzen duten elementuen erregistro zehaztua eta bere konposizioaren analisi erdikuantitatiboa.
• Gainazala osatzen duten elementuen erregistro zehaztua, eta elementu horien oxidazio egoeren kuantifikazioa eta analisia.
• Sakontasunaren araberako konposizio analisia, Ar+ ioien bonbardaketa bidezkoa. Analisi kualitatiboa, erdikuantitatiboa edo kuantitatiboa, eta analizatutako geruza desberdinen elementuen oxidazio egoeren analisia.
• Gainazalaren konposizioaren analisia, X izpien eraso angeluaren araberakoa eta geruza azalekoenen konposizioa ezagutzea ahalbidetzen duena. Analisi kualitatiboa, erdikuantitatiboa edo kuantitatiboa, eta neurri desberdinen elementuen oxidazio egoeren analisia, eraso angeluaren arabera.