MICROSCOPÍA Y CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES

• Microscopio Óptico (OM) Eclipse E600 (Nikon). SAT: Izasa Scientific. Operación: Transmisión, reflexión, luz polarizada. Disposición vertical. Objetivos: 5x, 10x, 20x y 100x. Oculares: 10x. Cámara digital para captación de imágenes. Pletina de calentamiento Mettler Toledo FP82HT.
• Microscopio Óptico (OM) Eclipse E80i (Nikon).  SAT: Izasa Scientific. Operación: Transmisión, reflexión, luz polarizada, epifluorescencia. Disposición vertical. Objetivos: 5x, 10x, 20x y 100x. Oculares: 10x. Cámara digital para captación de imágenes.
• Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) MULTIMODE 8, Nanoscope V (Bruker). SAT: Azbil Telstar Technologies. Escáneres: EVLR, JV, JVH, JVHC (Rango máx. XY: 100 micras x 100 micras, Z:  5.0 micras). Operación: Contacto, contacto intermitente (TappingModeTM), imagen de fase, microscopía de fuerzas magnéticas (MFM), microscopía de fuerzas electrostáticas (EFM). Accesorios: Kit MFM, Heater Controller.
• Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) Dimension ICON Nanoscope V (Bruker). SAT: Azbil Telstar Technologies. Escáner:  Dimension Hybrid XYZ SPM Head (Rango máx. XY: 90 micras x 90 micras, Z: 7.0 micras). Controlador: Nanoscope V. Operación: Contacto, contacto intermitente (TappingModeTM), imagen de fase, microscopía de fuerzas magnéticas (MFM), microscopía de fuerzas electrostáticas (EFM), ScanAsyst®, PeakForce TappingTM, PeakForce QNMTM. Accesorios: Kit MFM, Fluid Holder, PeakForce TUNATM.

COMPORTAMIENTO FÍSICO-QUÍMICO

• Calorímetro Diferencial de Barrido DSC822e (Mettler Toledo). SAT: Mettler Toledo. Operación: - 50°C/550°C (Air, N2, O2). Accesorios: Auto muestreador (34 muestras).
• Calorímetro Diferencial de Barrido DSC3+ (Mettler Toledo). SAT: Mettler Toledo. Operación: - 90°C/550°C (Air, N2, O2). Accesorios: Auto muestreador (34 muestras).
• Analizador Dinámico-Mecánico-Térmico (DMTA) Eplexor 100 N (Gabo Qualimeter). SAT: Netzsch. Operación: Tracción, flexión, compresión (- 100°C/350°C).
• Espectrómetro de Relajación Dieléctrica Alpha (DRS) (Novocontrol Technologies). SAT: Novocontrol Technologies. Operación: 0,1 Hz – 10 MHz. Accesorios: Sistema criogénico.
• Analizador de Semiconductores 4200 SCS (Keithley). SAT: Instrumentos de Medida S.L. Operación: I-V, C-V. Accesorios: Mesa de puntas (Máx. 4).
• PVT 100 (Haake). SAT: Instrumentos Físicos Ibérica S.L. Operación: Dilatometría, conductividad térmica (fundido).
• Espectrómetro UV-3600 (Shimadzu). SAT: Izasa Scientific. Operación: Transmitancia, reflectancia. Detectores: PMT, InGaAs, Pbs (185 nm-3300 nm). Accesorios: PMT, InGaAs, Pbs, esfera Integradora (reflectancia especular, difusa).
• ZetaSizer Ultra (Malvern Panalytical). SAT: IESMAT (Instrumentación Específica de Materiales, S.A.). Operación: Tamaño de partículas, concentración, potencial Z. Accesorios: Autotitrador MPT-3DEP.

CONDUCTA MECÁNICA

• Máquina Universal de Ensayos Mecánicos 4206 (Instron) (5900 retrofit). SAT: Instron. Operación: Tracción, flexión, compresión. Capacidad de carga máxima 100 kN.
• Máquina Universal de Ensayos Mecánicos 5967 (Instron). SAT: Instron. Operación: Tracción, flexión, compresión. Capacidad de carga máxima 100 kN. Accesorios: Cámara ambiental
• Ensayos Mecánicos en Miniatura MINIMAT (Rheometric Scientific). SAT: Rheometric Scientific. Operación: Tracción. Capacidad de carga máxima 200 N.

PREPARACIÓN DE MUESTRAS

• Diverso equipamiento para preparación de muestras: Ultramicrotomo Ultracut R (Leica), Spincoating P6700 (Specialty Coating Systems), y otras de acondicionado, mezclado, corte y pulido.