New Method for the Determination of the Defect Profile in Thin Layers Grown Over a Substrate
- Egileak:
- A. Zubiaga, J. A. García , F. Plazaola , F. Tuomisto, J. Zúñiga and V. Muñoz-Sanjosé
- Urtea:
- 2007
- Aldizkaria:
- Phys. Status Solidi C 4
- Liburukia:
- 10
- Hasierako orria - Amaierako orria:
- 3973 - 3976