X IZPIEN ZERBITZU OROKORRA: MOLEKULA ETA MATERIALEN UNITATEA
Ekipamendua
Ekipamendua: Difrakzioa tenperatura-ganberekin
Marka: Bruker
Modeloa: D8 Advance
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
Deskribapena: X izpien difrakzio-ekipoa, tenperaturarekin
Difraktometroa Theta-Theta geometriarekin. Ingurumenekoak ez diren tenperatura altuko neurrietarako da (HTK6/HTK2000 kamerak). Vantec detektagailu ultralasterra du, 6 graduko gehienezko irekiera duena.
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
Aplikazioak:
Ingurumenekoak ez diren baldintzetan X izpien difrakzioari esker, materialei buruzko egiturazko informazioa lor daiteke tenperatura desberdinetan; horrela, egonkortasun-eremuak, faseen arteko erreaktibitatea, egiturazko trantsizioak, oxidazio-prozesuak, sinteringa, degradazioa... zehaztu daitezke.
Datuak eskuratzeko abiadura handiari esker, scans azkarrak lor daitezke xurgatze-, desortzio- eta degradazio-prozesuak ebaluatzeko. Sistemek ez dute ingurumen-baldintzarik ezartzen.
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
Kokapena:
Zientzia eta Teknologia Fakultatea
Eraikina CD3/4
Lokala CD4.S1.14
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
Arduraduna (k):
- Aitor Larrañaga Varga Dk.
- Telefonoa: 94 601 2599
- E-maila: aitor.larranaga@ehu.eus
- Leire San Felices Mateos Dk.
- Telefonoa: 94 601 3488
- E-maila: leire.sanfelices@ehu.eus