Euskal Herriko Unibertsitatea Euskal Herriko Unibertsitatea

Breadcrumb

Info_Biomedicina_mic_mat_HELIOS

MIKROSKOPIA ELEKTRONIKOA ETA MATERIALEN MIKROANALISIA

Ekipamendua

Ekipamendua: MEB-FIB.

Marka: FEI.

Modeloa: Helios Nanolab 650.

____________________________________________________________________________

Deskribapena: FEI Helios NanoLab DualBeam 650 mikroskopio elektroniko ekorketa (SEM)/bideraturiko ioi sorta (FIB) lan estazio bat da, nanoanalisi aurreratua egiteko eta laginak prestatzeko gai dena. Gune bateko TEM lagin espezifikoetarako, FIB-SEMa elektroiei mintz gardenak sortzeko erabili ohi da, fokatutako galio-ioien sortak erabiliz. Gainera, Helios Nanolab 650 FIB-SEMek detektagailu ugari ditu, SEM irudien kalitate bikaina eskaintzeko gai direnak.

____________________________________________________________________________

Aplikazioak:

  • Lamelak ateratzea.
  • Laginaren gainazalaren irudia elektroiekin eskuratzea.
  • Ioi-sortarekin argaldutako laginen transmisio-irudia ematen du.
  • Laginen mikroanalisia ahalbidetzen du.

____________________________________________________________________________

Zehaztapen teknikoak:

  • 4.5nm-ko kointzidentzia-puntua ebaztea. 65nA-rainoko ioi-sortaren korrontea.
  • 5 gas-injektore Pt, W, C, isolatzaile bat (TEOS) eta eraso-gas bat (XeF2) jalkitzeko.
  • Elektroi sekundarioen eta elektroi atzerabarreiatuen detektagailuak.
  • Omniprobe Autoprobe 200.2 mikromanipulatzailea.
  • Ioi-detektagailua, ioiek eta elektroi sekundarioek emandako irudiak har dezakeena.
  • STEM detektagailua.
  • Oxfordeko detektagailu lehorra duen EDX Aztec Energy 350 mikroanalisi-sistema, 124eV-ko bereizmenarekin

_____________________________________________________________________

Arduraduna (k):

  • Sergio Fernandez

Kokapena:

  • Rosalin Franklin eraikina
  • Sarriena auzoa, z/g. 48940. Leioa. Bizkaia.

_____________________________________________________________________

Kontaktua:

Zerbitzuko teknikaria