MIKROSKOPIA ELEKTRONIKOA ETA MATERIALEN MIKROANALISIA

Ekipamendua: Ekortzeko mikroskopio elektronikoa, W filamentuarekin

Marka: JEOL

Modeloa: JSM-6400

____________________________________________________________________________

Deskribapena: Mikroskopio hau bereziki egokia da materialen gainazala behatzeko (geologikoak, kimiko-fisikoak...), eta materialen konposizioaren hurbilketa bat lortzeko analisi erdikuantitatiboak egiteko aukera ematen du. Elektroi atzerabarreiatuak erabiliz, materialen azterketan elementuen eta faseen banaketa lortzeko eskatzen da.

____________________________________________________________________________

Aplikazioak:

• Bereizmen handiko irudiak lortzea bigarren mailako elektroiekin.
• BSED (Back Scattering Electron Detector) detektagailu bat erabiliz elektroi atzerabarreiatuekin eta konposizioarekin irudiak lortzea.
• EDS espektroskopiaren bidezko oinarrizko analisi kimikoa.

____________________________________________________________________________

Zehaztapen teknikoak:

• Katodo termoionikoko elektroien kanoia, tungstenozko harizpia duena.
• Bigarren mailako elektroien detektagailua:
  • Irudiaren bereizmena
    • 25 KV-ra:
    • 3.5 nm (8 mm-ko lan-distantziara).
    • 10.0 nm (39 mm-ko lan-distantziara).
• Elektroi atzerabarreiatuen detektagailua:
  • Irudiaren bereizmena
    • 10.0 nm (8 mm-ko lan-distantziara).
• GIH analisia: oinarrizko analisi kualitatiboa, 133 eV-ko bereizmenarekin.
• Ekorketa-mikroskopiarako laginak prestatzea:
  • Materialak: metalizazioa urrearekin edo lurruntzea grafitoarekin.

_____________________________________________________________________

Arduraduna (k):

• Sergio Fernandez

Kokapena:

• Zientzia eta Teknologia Fakultatea
• Sarriena auzoa, z/g. 48940. Leioa. Bizkaia.

_____________________________________________________________________

Kontaktua:

Zerbitzuko teknikaria

• Sergio Fernández doktorea
• Telefonoa: 94 601 5998
• E-maila: sergio.fernandez@ehu.es