Gaia
RF eta mikrouhin sistemetarako tresneria eta kontrola
Gaiari buruzko datu orokorrak
- Modalitatea
- Ikasgelakoa
- Hizkuntza
- Ingelesa
Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua
To understand the fundamentals of instrumentation and control systems as applied in RF/microwave scientific and industrial facilities.Irakasleak
| Izena | Erakundea | Kategoria | Doktorea | Irakaskuntza-profila | Arloa | Helbide elektronikoa |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ECHEVARRIA ECENARRO, VICTOR | Euskal Herriko Unibertsitatea | Unibertsitateko Katedraduna | Doktorea | Elebakarra | Sistemen Ingeniaritza eta Automatika | victor.etxebarria@ehu.eus |
| FEUCHTWANGER MORALES, JORGE | Euskal Herriko Unibertsitatea | Ikerbaske Bisitaria | Doktorea | Elebakarra | Sistemen Ingeniaritza eta Automatika | jorge.feuchtwangerm@ehu.eus |
| PORTILLA RUBIN, JOAQUIN | Euskal Herriko Unibertsitatea | Unibertsitateko Irakaslego Titularra | Doktorea | Elebakarra | Elektronika | joaquin.portilla@ehu.eus |
Gaitasunak
| Izena | Pisua |
|---|---|
| Que los estudiantes sean capaces de adquirir y relacionar adecuadamente entre sí los conocimientos necesarios para poder abordar y asimilar el estudio de los conceptos teóricos y de aplicación práctica en el ámbito de la asignatura. | 100.0 % |
Irakaskuntza motak
| Mota | Ikasgelako orduak | Ikasgelaz kanpoko orduak | Orduak guztira |
|---|---|---|---|
| Magistrala | 16 | 20 | 36 |
| Mintegia | 10 | 15 | 25 |
| Laborategiko p. | 4 | 10 | 14 |
Irakaskuntza motak
| Izena | Orduak | Ikasgelako orduen ehunekoa |
|---|---|---|
| Gela/Mintegia/Tailerra | 26.0 | 100 % |
| Laborategia/Landa | 4.0 | 100 % |
| Lan autonomoa | 45.0 | 0 % |
Ebaluazio-sistemak
| Izena | Gutxieneko ponderazioa | Gehieneko ponderazioa |
|---|---|---|
| Idatzizko azterketa | 40.0 % | 60.0 % |
| Material teorikoak praktiketan aplikatzea | 40.0 % | 60.0 % |
Irakasgai-zerrenda
1.- Introduction to RF/microwave industrial and scientific facilities.2.- Case study: Microwave ion sources fundamentals.
3.- RF particle accelerators instrumentation and control.
4.- RF-based sensing and diagnostics.
Bibliografia
Nahitaez erabili beharreko materiala
- ApuntesGehiago sakontzeko bibliografia
-Wilson, E. (2001) An introduction to particle accelerators. Oxford University Press.-Wangler, T. (2008) RF linear accelerators. Wiley-VCH.
-Brandt, D. (Ed.) (2009) CAS Beam Diagnostics. CERN-2009-005.
-Brown, I. G. (Ed.) (2004) The Physics and Technology of Ion Sources 2nd Ed. Wiley-VCH.