Gaia
Material Berrien Karakterizazioa
Gaiari buruzko datu orokorrak
- Modalitatea
- Ikasgelakoa
- Hizkuntza
- Gaztelania
Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua
Asignatura obligatoria del Master en Nuevos Materiales con lo siguientes objetivos:Conocer los métodos de caracterización de materiales modernos.
Obtener una base teórica de los fundamentos de las diferentes técnicas.
Ser capaz de interpretar los resultados obtenidos con las diferentes técnicas.
Irakasleak
| Izena | Erakundea | Kategoria | Doktorea | Irakaskuntza-profila | Arloa | Helbide elektronikoa |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BAZAN BLAU, BEGOÑA DEL PILAR | Euskal Herriko Unibertsitatea | Doktore Ikertzaileak | Doktorea | Elebakarra | Kristalografia eta Mineralogia | bego.bazan@ehu.eus |
| BEOBIDE PACHECO, GARIKOITZ | Euskal Herriko Unibertsitatea | Unibertsitateko Irakaslego Titularra | Doktorea | Elebiduna | Kimika Ez-organikoa | garikoitz.beobide@ehu.eus |
| MARTINEZ MARTINEZ, VIRGINIA | Euskal Herriko Unibertsitatea | Doktore Ikertzaileak | Doktorea | Elebakarra | Kimika Fisikoa | virginia.martinez@ehu.eus |
| CARRASCAL VAQUERO, ISIDRO A. | Kantabriako Unibertsitatea | Unibertsitateko Irakaslego Titularra | Doktorea | isidro.carrascal@unican.es | ||
| RODRIGUEZ FERNANDEZ, JESUS | Kantabriako Unibertsitatea | Unibertsitateko Katedraduna | Doktorea | Materia Kondentsatuaren Fisika | jesus.rodriguezf@ehu.eus |
Gaitasunak
| Izena | Pisua |
|---|---|
| Capacidad de análisis, síntesis y gestión de información sobre la ciencia de nuevos materiales. | 25.0 % |
| Aprendizaje y trabajo autónomo y creativo en relación a la temática planteada en el Máster. | 25.0 % |
| Tener la capacidad de aplicar las herramientas de la ciencia de los nuevos materiales en la investigación de alto nivel. | 25.0 % |
| Ser capaz de analizar las propiedades de los materiales en relación a su estructura y carácter de enlace. | 25.0 % |
Irakaskuntza motak
| Mota | Ikasgelako orduak | Ikasgelaz kanpoko orduak | Orduak guztira |
|---|---|---|---|
| Magistrala | 30 | 45 | 75 |
| Mintegia | 10 | 15 | 25 |
| Gelako p. | 10 | 15 | 25 |
Irakaskuntza motak
| Izena | Orduak | Ikasgelako orduen ehunekoa |
|---|---|---|
| Ebaluazio probak | 1.0 | 100 % |
| Eskola magistralak | 30.0 | 100 % |
| Gelako praktikak | 34.0 | 25 % |
| Jarduera autonomoak | 60.0 | 10 % |
Ebaluazio-sistemak
| Izena | Gutxieneko ponderazioa | Gehieneko ponderazioa |
|---|---|---|
| Lan praktikoak | 25.0 % | 50.0 % |
| Test motako azterketa | 25.0 % | 70.0 % |
Irakasgaia ikastean lortuko diren emaitzak
Ser capaz de seleccionar las técnicas mas adecuadas para lograr la caracterización de cada tipo de material requerido.Ser capaz de interpretar los resultados de las técnicas de caracterización mas habituales.
Ohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea
Examen escrito: 60%Trabajo: 40 %
Los alumnos que no superen la evaluación continua tendrán un examen final.
Los estudiantes a tiempo parcial podrán sustituir una parte, nunca superior al 50%, de la evaluación continua por un trabajo escrito.
En el caso de que las condiciones sanitarias impidan la realización de la evaluación en los términos descritos con anterioridad, para todo o parte del alumnado matriculado en la asignatura, se atenderán las directrices emitidas por el Rectorado sobre la evaluación en el momento de realizarla.
Ezohiko deialdia: orientazioak eta uko egitea
Examen escrito: 60%Trabajo: 40 %
Los alumnos que no superen la evaluación continua tendrán un examen final.
Los estudiantes a tiempo parcial podrán sustituir una parte, nunca superior al 50%, de la evaluación continua por un trabajo escrito.
En el caso de que las condiciones sanitarias impidan la realización de la evaluación en los términos descritos con anterioridad, para todo o parte del alumnado matriculado en la asignatura, se atenderán las directrices emitidas por el Rectorado sobre la evaluación en el momento de realizarla.
Irakasgai-zerrenda
Tema 1 Técnicas estructurales.: Cristalografía y difracción de rayos X, Micoscopías (Electrónica, Óptica), Espectroscopías (RMN, FTIR, EPR, Mosbauer, Positrones)Tema 2 Técnicas analíticas: EDX, análisis elemental, cromatografía, masas
Tema 3 Técnicas específicas de caracterización: Caracterización Térmica, Mecánica, Eléctrica, Magnética, Óptica, Caracterización de películas delgadas y superficies, Microscopía de Fuerza Atómica.
Bibliografia
Oinarrizko bibliografia
"PHYSICAL METHODS FOR MATERIALS CHARACTERISATION" P. E. J. FLEWITT, R. K. WILD, INSTITUTE OF PHYSICS, LONDON (2003)"MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF MATERIALS" DAVID D. BRANDON, WAYNE D. KAPLAN, JOHN WILEY & SONS (2008)
"THE PRINCIPLES AND PRACTICE OF ELECTRON MICROSCOPY" IAN M. WATT, CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS (1997)