SERVICIO GENERAL DE RAYOS X DE LA UPV/EHU: UNIDAD DE MOLÉCULAS Y MATERIALES
Equipamiento
Equipo: Difracción con cámaras de temperatura
Marca: Bruker
Modelo: D8 Advance
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Descripción: Equipo de difracción de RX con temperatura
Difractómetro con geometría Theta-Theta. Está destinado a medidas no ambientales, de alta temperatura (cámaras HTK6 / HTK2000). Dispone de un detector ultrarrápido Vantec de 6º de apertura máxima.
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Aplicaciones:
La difracción de rayos X en condiciones no ambientales permite obtener información estructural de los materiales a distinta temperatura, de esta manera es posible determinar campos de estabilidad, reactividad entre fases, transiciones estructurales, procesos de oxidación, sintering, degradación…
La alta velocidad de adquisición de datos posibilita la obtención de scans rápidos para evaluación de procesos de absorción, desorción, degradación etc. De sistemas no establecen condiciones ambientales.
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Ubicación:
Facultad de Ciencia y Tecnología
Edificio CD3/4
Local: CD4.S1.14
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Responsable/s:
- Dr. Aitor Larrañaga Varga
- Teléfono: 94 601 2599
- E-mail: aitor.larranaga@ehu.eus
- Dra. Leire San Felices Mateos
- Teléfono: 94 601 3488
- E-mail: leire.sanfelices@ehu.eus