MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS DE MATERIALES
Presentación
El Servicio de Microscopia Electrónica y Microanálisis de Materiales, dispone de la infraestructura adecuada para la caracterización microstructural de materiales tanto en muestra masiva (microscopía electrónica de barrido y microanálisis) como en muestra delgada (microscopía electrónica de trasmisión y microanálisis).
Equipamiento
Campos de aplicación
Microscopía electrónica de barrido
Las imágenes que se obtienen en microscopía electrónica de barrido, dan tanto información topográfica de la superficie de una muestra rugosa (facies de fractura, recubrimientos, micro-hilos etc.) como información cualitativa sobre diferencias composicionales, o de orientación cristalina, de una muestra pulida.
Microscopía electrónica de transmisión
La microscopía electrónica de transmisión da información, tanto en imagen como en difracción, de un mismo punto de la muestra y esta información puede adquirirse para diferentes inclinaciones, de la muestra, con respecto al haz de electrones. Esta propiedad le confiere una gran versatilidad, ya que con ella pueden caracterizarse tanto los defectos cristalinos (dislocaciones, juntas de grano) como los composicionales (fronteras de antifase, precipitados, segregaciones etc.), así como la estructura cristalina. El hecho de poder hacer difracción en haz convergente (CBED), permite determinar la celda cristalina, el grupo puntual y el grupo espacial de cristales micro y nano métricos imbuidos, o no, en una muestra de mayor tamaño. Por otra parte, los espectros de EDX (obtenidos por la emisión de fotones de R-X) y los espectros EELS (obtenidos como consecuencia de la pérdida de energía de los electrones al atravesar la muestra), que pueden adquirirse sobre diferentes puntos de la muestra, permiten determinar las fórmulas químicas de las fases bajo estudio, que pueden ser de tamaño nanométrico.
FIB
El FIB del que se dispone, es un equipo que contiene dos columnas una de electrones y otra de iones formando un determinado ángulo. Permite preparar muestras de una amplia variedad de materiales (metales, cerámicas, semiconductores) para su observación en un microscopio electrónico de transmisión, siendo estas lamelas, de caras prácticamente paralelas, y de espesores que pueden controlarse. El tamaño de una muestra es típicamente de unas 20mm de longitud por un 5 mm de ancho y el espesor depende del tipo de información que se requiera y de la densidad de la misma.
Normas de acceso
Para el acceso a la Unidad de Proteómica se deben cumplir los requisitos establecidos en el Protocolo de acceso a los SGIker y de uso de los servicios disponibles.
Acceso en Autoservicio:
- El acceso en autoservicio será gestionado por el personal técnico de la unidad.
- Las reservas de equipo en modo autoservicio no podrán exceder de 5 horas, salvo excepciones debidamente justificadas y valoradas por el técnico del Servicio.
- En el caso de no hacer un uso responsable de la reserva, p.e. no anularla con antelación en caso de no poder asistir, no ocupar el equipo más de 75% del tiempo reservado, etc. el Servicio podrá facturar el total del tiempo.
- Cada reserva de equipo, tiene que estar vinculada a un número de solicitud.
- Los calendarios de reserva estarán disponibles para su consulta junto al enlace de solicitud.
Solicitud
Solicitud
La solicitud de un servicio se realiza a través de la aplicación IKERKUDE, la cual te ayudará a mantener la trazabilidad de todos los trabajos que realices en los SGIker. Al realizar la solicitud de un servicio la persona usuaria conoce y acepta el protocolo de acceso y la tarifa que se aplicará por los servicios prestados.
Autoservicio
La solicitud para reserva de equipo, se realizará también a través de IKERKUDE indicando que no se presentan muestras y especificando el equipo que se quiere reservar para que el personal técnico lo pueda agendar en los calendarios de reserva.
Consulta ocupación equipos
Localización
El Servicio de Microscopía Electrónica se encuentra en el la Facultad de Ciencia y Tecnología, ubicado en la Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea.
- UPV/EHU (Campus de Leioa)
- Facultad de Ciencia y Técnología
- C/Barrio Sarriena s/n, C.P.:48940
- Leioa.
Contacto
Técnico del Servicio
- Dr. Sergio Fernandez
- sergio.fernandez@ehu.eus
- Teléfono: 94 601 5998