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MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS DE MATERIALES

Equipamiento

Equipo: Microscopio electrónico de ultra-alta resolución de emisión de campo tipo Schottky X-FEG.

Marca: FEI.

Modelo: Titan Cubed G2.

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Descripción: Los microscopios Titan (FEI Company) son equipos de nueva generación que incorporan un corrector de aberración esférica (CEOS Company). En concreto, el Titan Imagen incorpora el corrector en la lente objetivo, la que forma la imagen, por lo que es el microscopio más apropiado para obtener imágenes de ultra-alta resolución (HRTEM)

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Aplicaciones:

  • Imagen Magnética TEM – Microscopía de Lorentz y Holografía Electrónica
  • Imagen HRTEM

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Especificaciones técnicas:

  • Alineamientos a 80, 200 y 300KV.
  • Cámara Gatan US1000XP-P de 2Kx2K.
  • Detectores de HAADF (Fischione) y de campo claro y de campo oscuro de FEI.
  • Detector de EDX Super-X (tecnología ChemiSTEM con adquisición y procesado de datos por el software ESPRIT de Bruker).
  • Filtro de energía de Gatan Quantum ER/965 P con Cámara Gatan 2Kx2K post filtro.
  • Lente de Lorentz.
  • Portamuestras de simple adquisición.
  • Portamuestras analítico de doble inclinación.
  • Portamuestras de simple inclinación para tomografía.
  • Software de adquisición, tanto en modo TEM como en STEM, para tomografía, software INSPECT 3D para el alineamiento y la reconstrucción. Y Resolve RT de FEI para la visualización. El tratamiento de reconstrucción y visualización se hace off line en otro ordenador.
  • Sistema de adquisición de precesión de electrones.
  • Software True Image para la adquisición y reconstrucción de series de foco.
  • Resolución punto a punto ≤ 0.07nm a 300KV y ≤ 0.11nm a 80KV.
  • Resolución en modo STEM ≤ 0.136nm a 300KV.
  • Resolución en energía ≤ 0.3eV. inclinación en a de ± 35º y en b de ± 30º.

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Responsable(s):

  • Sergio Fernandez

Ubicación:                       

  • Edificio Rosalind Franklin
  • Barrio Sarriena s/n.
  • 48940.
  • Leioa. Bizkaia.  

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Contacto:

Técnico del servicio