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Info_Biomedicina_mic_mat_F7000

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS DE MATERIALES

Equipamiento

Equipo: Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky.

Marca: JEOL

Modelo: JSM-7000F

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Descripción: Microscopio de barrido JEOL JSM 7600F, cañón de emisión de campo y sistema de análisis elemental EDS y detector de electrones “in lens”. ____________________________________________________________________________

Aplicaciones:

  • Detector de electrones secundarios (información topográfica),
  • Detector de electrones retrodispersados (información cualitativa composicional y de desorientación cristalina),
  • Detector EDX INCA X-sight Serie Si(Li) pentaFET de Oxford con ventana (información microanalítica a partir del Be) y sistema de adquisición y tratamiento INCA energy 350 que permite análisis puntuales, en línea y mapa
  • Detector de EBSD Nordlys II HKL premium (información cristalográfica). Están incluidos en el software Channel 5 tanto las bases de datos HKL, PDF2, geological y NISTcomo los software de adquisición y tratamiento: Twist, Mambo, Tango, Salsa, Flamenco, Map Stitcher
  • Se dispone de patrones para el microanálisis cuantitativo de numerosos materiales y minerales.
  • Software GSR para el análisis de partículas de disparo.

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Especificaciones técnicas:

  • Resolución en electrones secundarios de 1.2nm a 30KV y de 3nm a 1 KV.
  • Resolución de 3nm en electrones retrodispersados a 15KV y 10mm de distancia de trabajo.
  • El voltaje de aceleración es variable entre 0.5KV y 30KV y la corriente del haz lo es entre 1 picoA y 200nA.

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Responsable(s):           

  • Sergio Fernandez

Ubicación:                       

  • Facultad de Ciencia y Tecnología
  • Barrio Sarriena s/n. 48940. Leioa. Bizkaia.

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Contacto:

Técnico del servicio