MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y MICROANÁLISIS DE MATERIALES
Equipamiento
Equipo: Microscopio electrónico de barrido con filamento de W
Marca: JEOL
Modelo: JSM-6400
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Descripción: Este microscopio está especialmente indicado para la observación de la superficie de materiales (geológicos, químico-físico…), con la posibilidad de realizar análisis semicuantitativos para obtener una aproximación de la composición de los materiales. Se pede obtener, mediante el empleo de electrones retrodispersados, la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.
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Aplicaciones:
- Obtención de imágenes en alta resolución con electrones secundarios.
- Obtención de Imágenes con electrones retrodispersados y composición empleando un detector BSED (Back Scattering Electron Detector).
- Análisis químico elemental por medio de espectroscopia EDS.
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Especificaciones técnicas:
- Cañón de electrones de cátodo termoiónico con filamento de tungsteno.
- Detector de electrones secundarios:
- Resolución de la imagen
- A 25 KV:
- 3.5 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
- 10.0 nm (a 39 mm de distancia de trabajo).
- Resolución de la imagen
- Detector de electrones retrodispersados:
- Resolución de la imagen
- 10.0 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
- Resolución de la imagen
- Análisis EDS: análisis elemental cualitativo con una resolución de 133 eV.
- Preparación de muestras para microscopía de barrido:
- Materiales: metalización con oro o evaporación con grafito.
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Responsable(s):
- Sergio Fernandez
Ubicación:
- Facultad de Ciencia y Tecnología
- Barrio Sarriena s/n. 48940. Leioa. Bizkaia.
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Contacto:
Técnico del servicio
- Dr. Sergio Fernández
- Teléfono: 94 601 5998
- E-mail: sergio.fernandez@ehu.es