New Method for the Determination of the Defect Profile in Thin Layers Grown Over a Substrate
- Autoría:
- A. Zubiaga, J. A. García , F. Plazaola , F. Tuomisto, J. Zúñiga and V. Muñoz-Sanjosé
- Año:
- 2007
- Revista:
- Phys. Status Solidi C 4
- Volumen:
- 10
- Página de inicio - Página de fin:
- 3973 - 3976