Materia
Instrumentación y control para sistemas de RF y microondas
Datos generales de la materia
- Modalidad
- Presencial
- Idioma
- Inglés
Descripción y contextualización de la asignatura
Comprender los fundamentos de los sistemas de instrumentación y control en instalaciones científicas e industriales de RF / microondas.Profesorado
| Nombre | Institución | Categoría | Doctor/a | Perfil docente | Área | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ECHEVARRIA ECENARRO, VICTOR | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Catedratico De Universidad | Doctor | No bilingüe | Ingeniería de Sistemas y Automática | victor.etxebarria@ehu.eus |
| FEUCHTWANGER MORALES, JORGE | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Visitante Ikerbaske | Doctor | No bilingüe | Ingeniería de Sistemas y Automática | jorge.feuchtwangerm@ehu.eus |
| PORTILLA RUBIN, JOAQUIN | Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea | Profesorado Titular De Universidad | Doctor | No bilingüe | Electrónica | joaquin.portilla@ehu.eus |
Competencias
| Denominación | Peso |
|---|---|
| Que los estudiantes sean capaces de adquirir y relacionar adecuadamente entre sí los conocimientos necesarios para poder abordar y asimilar el estudio de los conceptos teóricos y de aplicación práctica en el ámbito de la asignatura. | 100.0 % |
Tipos de docencia
| Tipo | Horas presenciales | Horas no presenciales | Horas totales |
|---|---|---|---|
| Magistral | 16 | 20 | 36 |
| Seminario | 10 | 15 | 25 |
| P. Laboratorio | 4 | 10 | 14 |
Actividades formativas
| Denominación | Horas | Porcentaje de presencialidad |
|---|---|---|
| Aula/Seminario/Taller | 26.0 | 100 % |
| Laboratorio / Campo | 4.0 | 100 % |
| Trabajo Autónomo | 45.0 | 0 % |
Sistemas de evaluación
| Denominación | Ponderación mínima | Ponderación máxima |
|---|---|---|
| Aplicación en prácticas de los materiales teóricos | 40.0 % | 60.0 % |
| Examen escrito | 40.0 % | 60.0 % |
Temario
1- Introducción a las técnicas de instrumentación y control para equipamiento científico e infraestructuras de RF y microondas2- Caso práctico: fuentes de iones a microondas
3- Instrumentación y control en aceleradores RF de partículas
4- Sensorización y diagnósticos RF
Bibliografía
Materiales de uso obligatorio
- ApuntesBibliografía de profundización
-Wilson, E. (2001) An introduction to particle accelerators. Oxford University Press.-Wangler, T. (2008) RF linear accelerators. Wiley-VCH.
-Brandt, D. (Ed.) (2009) CAS Beam Diagnostics. CERN-2009-005.
-Brown, I. G. (Ed.) (2004) The Physics and Technology of Ion Sources 2nd Ed. Wiley-VCH.