Los Servicios Generales de Investigación, SGIker, ponen a disposición de la comunidad investigadora una nueva técnica para el análisis de superficies.

XPS es una técnica no destructiva que proporciona información sobre los elementos presentes en la superficie así como sobre su estado de oxidación y/o situaciones del entorno (coordinación). Se pueden llevar a cabo también estudios de distribución de elementos en función de la profundidad de la muestra, de manera destructiva (depth profile, que alcanza mayor profundidad) o no destructiva (XPS con resolución angular).

Para obtener más información, dirigirse a la página web de los SGIker o contactar con la técnico del servicio Mª Belén Sánchez Martínez de Ilárduya.

E-mail: mbelen.sanchez@ehu.es
Teléfono: 94 601 8332