Competencias específicas de la asignatura:

M02GM2.1 Desarrollo de los conceptos introductorios al estudio de los minerales de la Tierra.

M02GM2.2 Conocer las propiedades físicas, químicas y estructurales de los minerales.

M02GM2.4 Aplicar las técnicas de análisis instrumental usuales en Geología.



Competencias transversales de la asignatura:

GT2. Capacidad de resolución de problemas.



Competencias de la titulación:

GE7. Obtener, procesar, analizar e interpretar datos y observaciones de campo y de laboratorio con las técnicas e instrumentos apropiados y documentar los resultados de manera adecuada en informes o cuaderno de campo





Esta materia aborda los conceptos de Cristalografía y Cristaloquímica introductorios al estudio de los minerales. En ella se analiza la naturaleza química y estructural de los cristales, así como su comportamiento real ante los rayos X y la luz.

Cristaloquímica (CQ) ¿Qué es una estructura cristalina? Simetría de redes y grupos espaciales. Radio atómico. Número y poliedro de coordinación. Tipos de empaquetamientos de esferas. Cristales metálicos. Intersticios en un empaquetamiento de esferas. Estructuras derivadas de la ocupación de distintos tipos de intersticios. Estructura de los silicatos. Clasificación.



Cristalografía de rayos X. (RX) Los rayos X: Naturaleza e interacción con los cristales. La difracción de los rayos X. Métodos experimentales en difracción de rayos X. La identificación de minerales



Cristal Real. (CR) El cristal ideal y el cristal real. Defectos cristalinos. Agregados cristalinos. Maclas. Formación y crecimiento cristalino. Polimorfismo e Isomorfismo. Soluciones sólidas.



Cristalografía Óptica.(CO) El microscopio petrográfico. Observaciones previas: forma y hábito. Color y pleocroísmo. Índice de refracción y relieve. Óptica de materiales isótropos y anisótropos: indicatrices ópticas, birrefringencia, ángulo de extinción y elongación. Signos ópticos.

Los alumnos adquieren nociones mediante clases magistrales y prácticas en aula, en las que se utiliza proyección de imágenes y tratamiento de casos prácticos (problemas, etc.). En las prácticas se utilizan, un aula informática para el tratamiento de espectros de difracción de rayos X y el laboratorio de microscopía de luz transmitida.

Durante el curso, los alumnos han de elaborar información propia que deberán desarrollar como un trabajo en grupo. La información necesaria para la marcha de la asignatura se gestiona mediante la plataforma eGela.

La evaluación, tanto en la convocatoria ordinaria como en la extraordinaria, se realizará de acuerdo a lo siguiente:



Los exámenes suponen un 70% de la nota.

El otro 30% es la resultante de las notas de los problemas, informes y trabajos en grupo.



Para aprobar la asignatura se requiere:

Asistir regularmente a clase

Realizar al menos el 75% de los ejercicios, problemas y trabajos propuestos, obteniendo al menos 1.5 puntos en el total de los mismos.

Obtener al menos el 40% de la nota en cada examen, obteniendo al menos 3.5 puntos en el total de la puntuación de los exámenes.



La renuncia a la evaluación continua de la asignatura se realizará en concordancia a la Normativa Reguladora de la Evaluación del Alumnado de las Titulaciones de Grado (BOPV 50, 13 de marzo de 2017). La renuncia a la evaluación continua podrá ser presentada en las nueve primeras semanas de la asignatura. La renuncia deberá ser presentada por escrito y debidamente firmada al profesor/a responsable de la asignatura. De no cumplirse este requisito, se estimara que se acoge a la evaluación continua y se aplicara los resultados que de ella deriven.



Durante el desarrollo de las pruebas de evaluación quedará prohibida la utilización de libros, notas o apuntes, así como de aparatos o dispositivos telefónicos, electrónicos, informáticos, o de otro tipo, por parte del alumnado. Solo se permitirá usar calculadora con las funciones básicas.



En las pruebas de evaluación se aplicará el "Protocolo sobre ética académica y prevención de las prácticas deshonestas o fraudulentas en las pruebas de evaluación y en los trabajos académicos en la UPV/EHU".

Cuaderno de prácticas.
Libro de propiedades ópticas de los minerales.

Bibliografía básica

BLOSS, F.D. (1994): Crystallography and crystal chemistry. An introduction, Mineralogical Society of America, Washington.

BLOSS, F.D. (1970): Introducción a los métodos de Cristalografía Optica.

BORCHARDT-OTT, W. (1995): Crystallography, Springer Verlag, New York.

CUEVAS, M.A. et al.(2002): Problemas de Cristalografía. Publicaciones Universitat de Barcelona.

DYAR, M.D. GUNTER, M.E. y TASA, D. (2008): Mineralogy and Optical Mineralogy. Mineralogical Society of America. 706p.

KLEIN, C. Y HURLBUT, C.S. (1997): Manual de mineralogía, Ed. Reverté, Barcelona.

NESSE, W.D. (2004): Introduction to Optical Mineralogy.

NESSE, W.D. (2000): Introduction to Mineralogy. Oxford University Press, Oxford.

RODRÍGUEZ GALLEGO, M. (1982): La Difracción de los Rayos X. Ed. Alhambra. Madrid.

Bibliografía de profundización

BERMÚDEZ POLONIO, J. (19081): Métodos de Difracción de Rayos X. Principios y Aplicaciones. Pirámide. Madrid.
GIACOVAZZO, C., et al. (2002): Fundamentals of Crystallography. 2ª Ed. Series International Union of Crystallography Texts on Crystallography. IUCr-Oxford Science Pu.
International Tables for X-ray Crystallography (1987): Vol. A: Space-Group Symmetry. (Hahn T. Ed.) . D. Reidel Publ. Co., Kluwer Acad. Publ. Dordrecht.
PUTNIS, A. (1992): Introduction to Mineral Sciences, Cambridge University Press.
SANDS, D.E. (1978): Introducción a la cristalografía, Ed. Reverté.