Gaia

XSLaren edukia

Materialen egituraren karakterizazioa (UPJV)

Gaiari buruzko datu orokorrak

Modalitatea
Ikasgelakoa
Hizkuntza
Ingelesa

Irakasgaiaren azalpena eta testuingurua

Estudio de las técnicas instrumentales que se utilizan para la determinación de las propiedades de los distintos materiales en cualquier etapa de su proceso de producción, transformación y aplicación, e interpretación de la información obtenida.

- Microscopy

Gaitasunak

IzenaPisua
Materialen mota guztietako propietateak zehaztea, ekoizpen-, eraldaketa- eta aplikazio-prozesuaren edozein etapatan, teknika konbentzionalen eta beste teknika berritzaile batzuen bidez, eta lortutako informazioa behar bezala interpretatzea, bai eta materialak hobetzeko aukerak ezagutzea ere (gehigarriak, gainazaleko tratamenduak, etab.), haien erabilera optimizatze aldera.100.0 %

Irakaskuntza motak

MotaIkasgelako orduakIkasgelaz kanpoko orduakOrduak guztira
Magistrala2537.562.5
Gelako p.101525
Laborategiko p.57.512.5

Irakaskuntza motak

IzenaOrduakIkasgelako orduen ehunekoa
Azalpenezko eskolak20.0100 %
Eztabaidak5.0100 %
Landa-lanean oinarrizko trebetasunak eskuratzea10.00 %
Oinarrizko trebetasun instrumentalak eskuratzea5.0100 %
Talde-lana50.00 %
Txostenak eta azalpenak lantzea10.050 %

Ebaluazio-sistemak

IzenaGutxieneko ponderazioaGehieneko ponderazioa
Ahozko azterketa20.0 % 20.0 %
Idatzizko azterketa60.0 % 60.0 %
Lan praktikoak10.0 % 10.0 %

Irakasgaia ikastean lortuko diren emaitzak

- Karakterizazio fisiko eta kimikoko teknikak (bide hezea) ezagutzea eta lehengaiak, aitzindariak, produktu erdilanduak eta bukatuak definitzeko berezkoak diren teknika normalizatuak ezagutzea.



- Material solidoak, hauen gehigarriak eta lotura- eta akabera-produktuak ezaugarritzeko teknika espektroskopikoak eta kromatografikoak ezagutzea.



- Aitzindariak, produktu erdilanduak eta bukatuak karakterizatzeko teknika termikoak ezagutzea, eta horiek sortzera edo degradatzera daramaten erreakzioen ezaugarriak baloratzea.



- Aitzindariak, produktu erdilanduak eta bukatuak karakterizatzeko teknika erreologikoak ezagutzea, bai eta helburu estetikoekin edo babes-helburuekin erabiltzen diren material laguntzaileak eta aldatzaileak karakterizatzeko teknika erreologikoak ere.



- Material plastikoak eta konpositeak osatzen dituzten aitzindariak, produktu erdilanduak eta akaberak, hauen gehigarriak eta lotura- eta akabera-produktuak karakterizatu, hauen akatsak karakterizatu eta diagnosia egiteko ikusmen-teknikak, mikroskopia optikoak eta elektronikoak ezagutzea.



- Material plastikoak eta konpositeak, eta hauen loturak eta mihiztadurak ezaugarritzeko teknika mekanikoak ezagutzea.



- Materialen ikusketarako ¿Saiakuntza ez-Suntsitzaileetako Ekipo (NDT)¿ teknika klasiko batzuk ulertzea.



- Material plastikoen eta konpositeen karakterizaziorako eta kalifikaziorako berezkoak diren Aire Zabaleko Erresistentzia eta Suarekiko Erreakzio Saiakuntzen karakterizazio-teknika batzuk ulertzea.



- Informazio zientifiko-teknikoa biltzeko, aztertzeko eta kritikoki hautatzeko moduak ezagutzea.



- Informazio zientifiko-teknikoa ahoz eta idatziz modu koherentean transmititzeko moduak ezagutzea.



- Karakterizazio-teknika jakin batzuek ekar ditzaketen arriskuen balorazioa egiteko gai izatea, bai segurtasunaren eta higienearen ikuspegitik, baita ingurumen-eraginaren ikuspegitik ere.

Irakasgai-zerrenda

1- Estructura cristalina, simetría, difracción

2- Identificación y cuantificación de fases

3- Uso del conocimiento existente - bases de datos

4- Método Rietveld para el refinamiento

5- Fundamentos de la estructura

Bibliografia

Oinarrizko bibliografia

1. Fractography. Observing, measuring and interpreting fracture surface topography. Derek Hull. University Press, Cambridge (1999).

2. Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Ed. by Nan Yao and Zhong Lin Wang. Kluwer Academic Pu. New York (2005).

3. Characterization of nanophase materials. Ed. by Zhong Lin Wang. Wiley-VCH. Weinheim (2000).

4. Polymer Microscopy. Ed. by L.C. Sawyer and D.T. Grubb. Chapman & Hall. London (1996).

5. Scanning Probe Microscopy: characterization, nanofabrication, and device application of functional materials. Ed. by P.M. Vilarinho, Y. Rosenwaks and A. Kingon. Kluwer. Dordrecht (2002).

6. Procedures in Scanning Probe Microscopies. Ed. by Colton, Engel, Frommer, Gaub, Gewirth, Guckenberger, Heckl, Parkinson, Rabe. Wiley. West Sussex (1999).

7. Thin film analysis by X-ray scattering. Ed. by M. Birkholz. Wiley-VCH. Weinheim (2006).

8. Encyclopedia of Spectroscopy. Ed. by H.H. Perkampus. Wiley-VCH- Weinheim (1995).

9. Tablas para la elucidación structural de compuestos orgánicos por métodos espectroscópicos. Ed. By E. Pretsch, T. Clero, J. Seibl and W. Simon. Alhambra. Madrid (1991).

XSLaren edukia

Iradokizunak eta eskaerak